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Degradation analysis and parameter extraction of organic semiconductor devices : investigation by means of complementary measurement techniques combined with numerical simulation / von Dipl.-Phys. Simon David Züfle

Von:

Züfle, Simon David [VerfasserIn]

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Verlag: Karlsruhe : KIT-Bibliothek, [2017]Beschreibung: 1 Online-Ressource (xix, 208 Seiten) : IllustrationenSchlagwörter:

Genre/Form:

Hochschulschrift

DDC-Klassifikation:

621.3

Local classification: Lokale Notation: elt 11DOI: DOI: 10.5445/IR/1000078129Online-Ressourcen:

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Hochschulschriftenvermerk: Dissertation - Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2017 PPN: PPN: 1010274031Package identifier: Produktsigel: GBV-ODiss

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