2017 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optoelectronic Imaging/Spectroscopy and Signal Processing Technology : 28-30 October 2017, Beijing, China / Guohai Situ, Xun Cao, Wolfgang Osten (editors) ; sponsored by: CIS, China Instrument and Control Society (China), SPIE

Von:

International Conference on Optical Instruments and Technology : Optoelectronic Imaging/Spectroscopy and Signal Processing Technology (2017 : Peking) [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Reihen: SPIE. Proceedings of SPIE ; volume 10620Verlag: Bellingham, Washington, USA : SPIE, [2018]Beschreibung: 1 Online-Ressource : IllustrationenISBN:

9781510617520

Weitere Titel:

OIT Topical Meeting Peking
Optoelectronic Imaging/Spectroscopy and Signal Processing Technology

Genre/Form:

Konferenzschrift

Andere physische Formen: 9781510617513 | Erscheint auch als: 2017 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optoelectronic Imaging/Spectroscopy and Signal Processing Technology. Druck-Ausgabe Bellingham, Washington, USA : SPIE, 2018. circa 530 Seiten in verschiedenen SeitenzählungenOnline-Ressourcen:

PPN: PPN: 1041176309Package identifier: Produktsigel: ZDB-1-SPIE

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