Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV : 12-14 October 2016, Beijing, China / Sen Han, Toru Yoshizawa, Song Zhang (editors) ; sponsored by: SPIE, COS - Chinese Optical Society

Von:

Conference on Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications (2016 : Peking) [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Reihen: SPIE. Proceedings of SPIE ; volume 10023Verlag: Bellingham, Washington, USA : SPIE, [2016]Beschreibung: 1 Online-Ressource : IllustrationenISBN:

9781510604667

Weitere Titel:

SPIE-COS Photonics Asia Peking Conference

Schlagwörter:

Optische Messtechnik

Genre/Form:

Konferenzschrift

Andere physische Formen: 9781510604650 | Erscheint auch als: Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV. Druck-Ausgabe Bellingham, Washington, USA : SPIE, 2016. circa 440 verschieden gezählte SeitenOnline-Ressourcen:

PPN: PPN: 1041817452Package identifier: Produktsigel: ZDB-1-SPIE

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