Infrared Imaging Systems: Design, Analysis, Modeling, and Testing XXVIII : 11-12 April 2017, Anaheim, California, United States / Gerald C. Holst, Keith A. Krapels (editors) ; sponsored and published by: SPIE

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(28. : Infrared Imaging Systems: Design, Analysis, Modeling, and Testing (Veranstaltung) (28. : 2017 : Anaheim, Calif.) [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Reihen: SPIE. Proceedings of SPIE ; volume 10178Verlag: Bellingham, Washington, USA : SPIE, [2017]Beschreibung: 1 Online-Ressource : IllustrationenISBN:

9781510608580

Weitere Titel:

SPIE Defense Security Commercial Sensing DCS Twenty-eighth 28th Conference

Genre/Form:

Konferenzschrift

Andere physische Formen: 9781510608573 | Erscheint auch als: Infrared Imaging Systems: Design, Analysis, Modeling, and Testing XXVIII. Druck-Ausgabe Bellingham, Washington, USA : SPIE, 2017. circa 380 verschieden gezählte SeitenOnline-Ressourcen:

PPN: PPN: 1043464212Package identifier: Produktsigel: ZDB-1-SPIE

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