Pattern Recognition and Tracking XXVIII : 12-13 April 2017, Anaheim, California, United States / Mohammad S. Alam (editor) ; sponsored and published by: SPIE

Von:

(28. : Pattern Recognition and Tracking (Veranstaltung) (28. : 2017 : Anaheim, Calif.) [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Alam, Mohammad S [HerausgeberIn]
SPIE [Herausgebendes Organ, SponsorIn]

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Reihen: SPIE. Proceedings of SPIE ; volume 10203Verlag: Bellingham, Washington, USA : SPIE, [2017]Beschreibung: 1 Online-Ressource : IllustrationenISBN:

9781510609082

Weitere Titel:

SPIE Defense Security Commercial Sensing DCS

Schlagwörter:

Maschinelles Sehen
Mustererkennung

Genre/Form:

Konferenzschrift

Andere physische Formen: 9781510609075 | Erscheint auch als: Pattern Recognition and Tracking XXVIII. Druck-Ausgabe Bellingham, Washington, USA : SPIE, 2017. circa 220 verschieden gezählte SeitenOnline-Ressourcen:

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PPN: PPN: 1043521895Package identifier: Produktsigel: ZDB-1-SPIE

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