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Dynamic thermal characterization of thin films via IR thermography / Anton Josef Greppmair
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Series: Selected topics of semiconductor physics and technology ; vol. 215Publisher: Garching : Verein zur Förderung des Walter Schottky Instituts der Technischen Universität München e.V, 2018Edition: 1. AuflageDescription: vii, 138 Seiten : Illustrationen ; 21 cmISBN:- 394637915X
- 9783946379157
- 530
| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | phys 6.2 | Geschlossenes Magazin | 2020 A 873 | Available | 53789256090 |
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