Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : proceedings / ed. by Brian K. Tanner ...

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: NATO. NATO advanced study institutes series / B ; 63Verlag: New York [u.a.] : Plenum Press, 1980Beschreibung: XXVI, 589 S. : Ill., graph. DarstISBN:

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RVK: RVK: UQ 2400 | UD 6100-UD 9360LOC-Klassifikation:

Call number: Grundsignatur: 81 E 40PPN: PPN: 012523690

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Medientyp	Heimatbibliothek	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode	Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	81 E 40	Verfügbar		17129974

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