Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : proceedings / ed. by Brian K. Tanner ...
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: NATO. NATO advanced study institutes series / B ; 63Verlag: New York [u.a.] : Plenum Press, 1980Beschreibung: XXVI, 589 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 0306406284
- 548/.5
- 539.7/21
- QD921
Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 81 E 40 | Verfügbar | 17129974 |
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