Physical measurement and analysis of thin films : [selected papers from the 1967 Eastern Analytical Symposium] / ed. by Edward M. Murt ...
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Progress in analytical chemistry ; 2Verlag: New York : Plenum Pr., 1969Beschreibung: 194 SSchlagwörter: Genre/Form: RVK: RVK: UP 7500Call number: Grundsignatur: 69 A 773PPN: PPN: 1071601792| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | chem 1.40 | Geschlossenes Magazin | 69 A 773 | Verfügbar | 09042467630 |
Anzahl Vormerkungen: 0