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Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse / Guenther von Buenau; Klaus-Dieter Kloeppel

Von: Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Nordrhein-Westfalen. Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049Verlag: Opladen : Westdeutscher Verlag, 1981Beschreibung: 23 S. : graph. DarstISBN:
  • 3531030493
Schlagwörter: RVK: RVK: VG 9807Call number: Grundsignatur: 81 B 456PPN: PPN: 012591092
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Fälligkeitsdatum Barcode Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 81 B 456 Verfügbar 45927132090
Anzahl Vormerkungen: 0

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