Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse / Guenther von Buenau; Klaus-Dieter Kloeppel
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Nordrhein-Westfalen. Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049Publisher: Opladen : Westdeutscher Verlag, 1981Description: 23 S. : graph. DarstISBN:- 3531030493
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Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 81 B 456 | Available | 45927132090 |
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