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Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen / Uwe Hübner. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung. GMD-Studien ; 174Publisher: Sankt Augustin : Gesellsch. f. Mathem. u. Datenverarb., 1989Description: 161, [121] S : graph. DarstISBN:- 3884571745
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 90 E 248 | Available | 45876623090 |
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