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Die Alterung bei n-Kanal MOS-Transistoren unter dem Einfluß hochenergetischer Ladungsträger : Der "Hot-Electron"-Effekt / Thomas Giebel
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 81Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1988Beschreibung: 115 S : graph. DarstISBN:- 3181481092
- Nebent.: Der "Hot-Electron"-Effekt
- Der "Hot-Electron"-Effekt
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 88 A 3725 | Verfügbar | 46804415090 |
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