Die Alterung bei n-Kanal MOS-Transistoren unter dem Einfluß hochenergetischer Ladungsträger : Der "Hot-Electron"-Effekt / Thomas Giebel

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 81Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1988Description: 115 S : graph. DarstISBN:

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Dissertation note: Zugl.: Dortmund, Univ., Diss. Call number: Grundsignatur: 88 A 3725PPN: PPN: 025061577

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Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	88 A 3725	Available		46804415090

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