The application of electron microscopy to materials science : proceedings of an international workshop, held in China, Gauonzhou, August 1988 / ed.: K. H. Kuo. Sponsored by the Chinese Academy of Sciences ..
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Diffusion and defect data / B ; 5Verlag: Vaduz : Trans Tech Publ., 1989Beschreibung: 209 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 3908044014
- Nebent.: Focus electron microscopy
- Focus electron microscopy
- Electron microscopy
- 541.3
- 1
Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | ZA 5367:B-5.1989 | Verfügbar | 50151586090 |
Anzahl Vormerkungen: 0
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