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The application of electron microscopy to materials science : proceedings of an international workshop, held in China, Gauonzhou, August 1988 / ed.: K. H. Kuo. Sponsored by the Chinese Academy of Sciences ..

Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Diffusion and defect data / B ; 5Verlag: Vaduz : Trans Tech Publ., 1989Beschreibung: 209 S. : Ill., graph. DarstISBN:
  • 3908044014
Weitere Titel:
  • Nebent.: Focus electron microscopy
  • Focus electron microscopy
  • Electron microscopy
Schlagwörter: Genre/Form: DDC-Klassifikation:
  • 541.3
RVK: RVK: UH 6300Bearbeitungsvermerk:
  • 1
Call number: Grundsignatur: ZA 5367:B-5.1989PPN: PPN: 025151800
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Fälligkeitsdatum Barcode Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin ZA 5367:B-5.1989 Verfügbar 50151586090
Anzahl Vormerkungen: 0

Archivierung prüfen 20211112 DE-640 1 pdager

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