Testing and reliable design of CMOS circuits / by Niraj K. Jha and Sandip Kundu

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kluwer international series in engineering and computer science ; 88 : VLSI, computer architecture and digital signal processingVerlag: Dordrecht [u.a.] : Kluwer, 1990Beschreibung: XII, 231 S : ill ; 25 cmISBN:

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Call number: Grundsignatur: 90 A 1703PPN: PPN: 025237691

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Medientyp	Heimatbibliothek	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode	Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	90 A 1703	Verfügbar		46400913090
Institutsbestand	ITIV		IB-2517	Nicht ausleihbar

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