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Testing and reliable design of CMOS circuits / by Niraj K. Jha and Sandip Kundu

Von: Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kluwer international series in engineering and computer science ; 88 : VLSI, computer architecture and digital signal processingVerlag: Dordrecht [u.a.] : Kluwer, 1990Beschreibung: XII, 231 S : ill ; 25 cmISBN:
  • 0792390563
Schlagwörter: DDC-Klassifikation:
  • 621.39/732
RVK: RVK: ST 190LOC-Klassifikation:
  • TK7871.99.M44
Bearbeitungsvermerk:
  • 3
Call number: Grundsignatur: 90 A 1703PPN: PPN: 025237691
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Fälligkeitsdatum Barcode Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 90 A 1703 Verfügbar 46400913090
Institutsbestand ITIV IB-2517 Nicht ausleihbar
Anzahl Vormerkungen: 0

Archivierung prüfen 20240511 DE-640 3 pdager

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