Testing and reliable design of CMOS circuits / by Niraj K. Jha and Sandip Kundu
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kluwer international series in engineering and computer science ; 88 : VLSI, computer architecture and digital signal processingVerlag: Dordrecht [u.a.] : Kluwer, 1990Beschreibung: XII, 231 S : ill ; 25 cmISBN:- 0792390563
- 621.39/732
- TK7871.99.M44
- 3
Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 90 A 1703 | Verfügbar | 46400913090 | |||
Institutsbestand | ITIV | IB-2517 | Nicht ausleihbar |
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