Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung / Ulrich Rendtel ; Hans-Joachim Lenz
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Arbeiten zur angewandten Statistik ; 33Publisher: Heidelberg : Physica-Verl., 1990Description: IX, 231 S. : graph. DarstISBN:- 3790804681
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Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 90 A 1499 | Available | 46408279090 |
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