Anwendbarkeit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) zur Untersuchung der Fremddiffusion, dargestellt am Beispiel der Volumendiffusion von In und Al in Ni-Einkristallen und der Korngrenzendiffusion von In in orientierten Ni-Zweikristallen / Michael Bever Hintz
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Publisher: 1979Description: 128 S. : graph. DarstSubject(s): Genre/Form: Dissertation note: Stuttgart, Univ., Diss., 1979 Call number: Grundsignatur: 80 DA 1161PPN: PPN: 1077476906| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 80 DA 1161 | Available | 50158907090 |
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