Anwendbarkeit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) zur Untersuchung der Fremddiffusion, dargestellt am Beispiel der Volumendiffusion von In und Al in Ni-Einkristallen und der Korngrenzendiffusion von In in orientierten Ni-Zweikristallen / Michael Bever Hintz
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1979Beschreibung: 128 S. : graph. DarstSchlagwörter: Genre/Form: Hochschulschriftenvermerk: Stuttgart, Univ., Diss., 1979 Call number: Grundsignatur: 80 DA 1161PPN: PPN: 1077476906| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 80 DA 1161 | Verfügbar | 50158907090 |
Anzahl Vormerkungen: 0