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Anwendbarkeit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) zur Untersuchung der Fremddiffusion, dargestellt am Beispiel der Volumendiffusion von In und Al in Ni-Einkristallen und der Korngrenzendiffusion von In in orientierten Ni-Zweikristallen / Michael Bever Hintz

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1979Beschreibung: 128 S. : graph. DarstSchlagwörter: Genre/Form: Hochschulschriftenvermerk: Stuttgart, Univ., Diss., 1979 Call number: Grundsignatur: 80 DA 1161PPN: PPN: 1077476906
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Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Fälligkeitsdatum Barcode Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 80 DA 1161 Verfügbar 50158907090
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