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Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman; James W. Mayer
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: New York, NY [u.a.] : North Holland, 1986Beschreibung: XVIII, 352 S. : zahlr. graph. DarstISBN:- 0444009892
- 530.4/1
| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Exemplarnummer | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin | 87 A 595 | ;b | Verfügbar | 53043757090 | ||||
| Freihandbestand Präsenznutzung | Fachbibliothek Physik | phys 8.70 | Bibliothek / frei aufgestellt | 87 A 595 | Nicht ausleihbar | 23089824 |
Anzahl Vormerkungen: 0