Quantitative Auger-Elektronenspektroskopie zur Tiefenprofilanalyse von Schichtsystemen am Beispiel von Silizium nach Nickelimplantation / Andreas Schönborn
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 5 ; 235Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1991Edition: Als Ms. gedrDescription: II, 134 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 3181435058
- Nebent.: Ionenstrahlsynthese
- Ionenstrahlsynthese
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