Quantitative Auger-Elektronenspektroskopie zur Tiefenprofilanalyse von Schichtsystemen am Beispiel von Silizium nach Nickelimplantation / Andreas Schönborn

By:

Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 5 ; 235Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1991Edition: Als Ms. gedrDescription: II, 134 S. : Ill., graph. DarstISBN:

Other title:

Subject(s):

Action note:

Dissertation note: Zugl.: Dortmund, Univ., Diss., 1991 Call number: Grundsignatur: 91 A 4151PPN: PPN: 025593765

Holdings
Item type	Home library	Shelving location	Call number	Status	Date due	Barcode	Item holds
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	91 A 4151	Available		45999205090

Total holds: 0

Archivierung prüfen 20200919 DE-640 2 pdager