Die Charakterisierung der elektro-physikalischen Eigenschaften der Halbleiter-Isolator-Grenzfläche mit elektronenmikroskopischen und elektrischen Methoden und ihre Beeinflussung durch eine nichtdotierende Ionenimplantation / von Krystian Wencel
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1988Beschreibung: 169 S. : Ill., graph. DarstGenre/Form: Bearbeitungsvermerk:- 1
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