Die Charakterisierung der elektro-physikalischen Eigenschaften der Halbleiter-Isolator-Grenzfläche mit elektronenmikroskopischen und elektrischen Methoden und ihre Beeinflussung durch eine nichtdotierende Ionenimplantation / von Krystian Wencel

By: Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Publisher: 1988Description: 169 S. : Ill., graph. DarstGenre/Form: Action note:
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Dissertation note: Berlin, Univ., Diss., 1988 Call number: Grundsignatur: 89 DE 1084PPN: PPN: 1087434262
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