Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze / Manfred Schäfer
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 38Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1989Beschreibung: VII, 253 S. : graph. DarstISBN:- 3181433219
- Robuste CMOS-Tests
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Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Exemplarnummer | Status | Barcode | |
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