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Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze / Manfred Schäfer

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 38Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1989Beschreibung: VII, 253 S. : graph. DarstISBN:
  • 3181433219
Weitere Titel:
  • Robuste CMOS-Tests
Schlagwörter: Genre/Form: Bearbeitungsvermerk:
  • 2
Hochschulschriftenvermerk: Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1988 Call number: Grundsignatur: 89 DA 34PPN: PPN: 1087435307
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Sammlung Standort Signatur Exemplarnummer Status Fälligkeitsdatum Barcode Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 89 DA 34 ;b Verfügbar 27129170
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 89 DA 34 ;c Verfügbar 53098912090
Freihandbestand ausleihbar Fachbibliothek Informatik B.Schä Bibliothek / frei aufgestellt B.Schä(09401) Verfügbar 000008642090
Anzahl Vormerkungen: 0

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