Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze / Manfred Schäfer

By: Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 38Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1989Description: VII, 253 S. : graph. DarstISBN:
  • 3181433219
Other title:
  • Robuste CMOS-Tests
Subject(s): Genre/Form: Action note:
  • 3
Dissertation note: Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1988 Call number: Grundsignatur: 89 DA 34PPN: PPN: 1087435307
Holdings
Item type Home library Collection Shelving location Call number Copy number Status Date due Barcode Item holds
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 89 DA 34 ;b Available 27129170
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 89 DA 34 ;c Available 53098912090
Freihandbestand ausleihbar Fachbibliothek Informatik B.Schä Bibliothek / frei aufgestellt B.Schä(09401) Available 000008642090
Total holds: 0

Archivierung prüfen 20200919 DE-640 3 pdager

Powered by Koha