Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze / Manfred Schäfer
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 38Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1989Description: VII, 253 S. : graph. DarstISBN:- 3181433219
- Robuste CMOS-Tests
- 2
- Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet DISS
| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Copy number | Status | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 89 DA 34 | ;c | Available | 53098912090 | ||
| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 89 DA 34 | ;b | Available | 27129170 | ||
| Archiv (Magazin CS) | Bibliothek Campus Süd | Archiv | 89 DA 34 | Available | 27129216 | |||
| Freihandbestand ausleihbar | Fachbibliothek Informatik | B.Schä | Bibliothek / frei aufgestellt | B.Schä(09401) | Available | 000008642090 |
Total holds: 0
Archivierung prüfen 20240511 DE-640 2 pdager
Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet DISS pdager DE-90