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Proceedings of the ... International Conference on Microelectronic Test Structures. 1989, Edinburgh, Scotland, 13 - 14th March 1989
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Gesamtaufnahme: Proceedings of the ... International Conference on Microelectronic Test Structures.Verlag: 1989ISBN:- 0879427140
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 90 E 596 | Verfügbar | 11291637 |
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