Analyse von Störstellen in Halb- und Photoleitern mit Hilfe von Untersuchungen der elektrischen Leitfähigkeit / von Hans-Jürgen Hoffmann
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Publisher: 1978Description: 52 gez. Bl., AnhGenre/Form: Action note:- 1
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 80 DE 9 | ;b | Available | 27154246 |
Total holds: 0
Archivierung prüfen 20200919 DE-640 1 pdager