Analyse von Störstellen in Halb- und Photoleitern mit Hilfe von Untersuchungen der elektrischen Leitfähigkeit / von Hans-Jürgen Hoffmann
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1978Beschreibung: 52 gez. Bl., AnhGenre/Form: Bearbeitungsvermerk:- 1
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Exemplarnummer | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 80 DE 9 | ;b | Verfügbar | 27154246 |
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