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Materialcharakterisierung durch Untersuchung der Rekombinationsprozesse und Störstellenparameter in Silizium / von Wolfgang Schmid; Manfred H. Pilkuhn. Physikalisches Institut, Teilinstitut 4, Universität Stuttgart. Bundesministerium für Forschung und Technologie

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Deutschland Forschungsbericht / T ; 81-114Publisher: Eggenstein-Leopoldshafen : Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik Karlsruhe, 1981Edition: Als Ms gedrDescription: 80 S : graph. DarstReport number: BMFT-FB-T-81-114Other title:

Parallelt.: Materials characterization of silicon and analysis of recombination processes and impurities
Materials characterization of silicon and analysis of recombination processes and impurities

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Call number: Grundsignatur: ZE 5324-1981,114.1981PPN: PPN: 1114223379

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