Materialcharakterisierung durch Untersuchung der Rekombinationsprozesse und Störstellenparameter in Silizium / von Wolfgang Schmid; Manfred H. Pilkuhn. Physikalisches Institut, Teilinstitut 4, Universität Stuttgart. Bundesministerium für Forschung und Technologie
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Deutschland Forschungsbericht / T ; 81-114Verlag: Eggenstein-Leopoldshafen : Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik Karlsruhe, 1981Auflage: Als Ms gedrBeschreibung: 80 S : graph. DarstReportnummer: BMFT-FB-T-81-114Weitere Titel:- Parallelt.: Materials characterization of silicon and analysis of recombination processes and impurities
- Materials characterization of silicon and analysis of recombination processes and impurities
- 2
- Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW
Dieser Titel hat keine Exemplare
Archivierung prüfen 20200919 DE-640 2 pdager
Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW DE-31 pdager DE-90