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Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surface et Films Minces, 7-10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Französisch, Englisch Reihen: Journal de physique ; 44,Suppl.10Verlag: Les Ulis : Les Éd. de Physique, 1983Beschreibung: XVIII, 533 S : Ill., graph. DarstISBN:- 2902731698
- Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis
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Inhalte:
Call number: Grundsignatur: 84 A 624PPN: PPN: 013997688
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 84 A 624 | Verfügbar | 47991849090 |
Anzahl Vormerkungen: 0
Beitr. teilw. franz., teilw. engl