Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung / von D. Bräunig; H. G. Wagemann
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Deutschland Forschungsbericht / Weltraumforschung ; 70,23Publisher: München : Zentralstelle für Luftfahrtdokumentation u. -information (ZLDI) d. Dt. Forschungs- u. Versuchsanst. für Luft- u. Raumfahrt e.V., 1970Description: 28 S. : IllAction note:- 3
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Magazinbestand Präsenznutzung | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | ZE 4274-70,23.1970 | Bestellbar ins Abholregal | 52873963090 |
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