Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung / von D. Bräunig; H. G. Wagemann

By: Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Deutschland Forschungsbericht / Weltraumforschung ; 70,23Publisher: München : Zentralstelle für Luftfahrtdokumentation u. -information (ZLDI) d. Dt. Forschungs- u. Versuchsanst. für Luft- u. Raumfahrt e.V., 1970Description: 28 S. : IllAction note:
  • 3
Call number: Grundsignatur: ZE 4274-1970,23.1970PPN: PPN: 1117167569
Holdings
Item type Home library Shelving location Call number Status Barcode
Magazinbestand Präsenznutzung Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin ZE 4274-70,23.1970 Bestellbar ins Abholregal 52873963090
Total holds: 0

Archivierung prüfen 20200919 DE-640 3 pdager