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Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung / von D. Bräunig; H. G. Wagemann

Von: Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Deutschland Forschungsbericht / Weltraumforschung ; 70,23Verlag: München : Zentralstelle für Luftfahrtdokumentation u. -information (ZLDI) d. Dt. Forschungs- u. Versuchsanst. für Luft- u. Raumfahrt e.V., 1970Beschreibung: 28 S. : IllBearbeitungsvermerk:
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Call number: Grundsignatur: ZE 4274-1970,23.1970PPN: PPN: 1117167569
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Magazinbestand Präsenznutzung Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin ZE 4274-70,23.1970 Bestellbar ins Abholregal 52873963090
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