Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung / von D. Bräunig; H. G. Wagemann ...
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung. HMI-Berichte ; 75Verlag: Berlin-Wannsee : Hahn-Meitner-Institut, 1968Beschreibung: 15, [5] S. : IllBearbeitungsvermerk:- 2
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin CN | CN HMI-B-75 | Verfügbar | 53090758090 |
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