Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung / von D. Bräunig; H. G. Wagemann ...
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung. HMI-Berichte ; 75Publisher: Berlin-Wannsee : Hahn-Meitner-Institut, 1968Description: 15, [5] S. : IllAction note:- 2
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin | CN HMI-B-75 | Available | 53090758090 |
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