Maskierwirkung, Fremdstoffgehalt und Infrarotabsorption verschiedener SiO 2 -Schichten / von I. Fraenz, W. Langheinrich
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Deutschland Forschungsbericht / Weltraumforschung ; 68,50Publisher: München : Zentralst. f. Luftfahrtdokumentation und -information d. Dt. Ges. f. Flugwiss. e. V., 1968Description: 43 S. : Ill., graph. DarstAction note:- 3
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | ZE 4274-1968,50.1968 | Available | 53956084090 |
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