Ab initio Berechnung der (110) Oberfläche von III-V Halbleitern : Simulation von Rastertunnelmikroskopie-Aufnahmen / Benedikt Engels
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Forschungszentrum Jülich. Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3215Publisher: Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996Description: VIII, 179 Seiten : Illustrationen, DiagrammeReport number: Jül-3215Genre/Form: Action note:- 2
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin | CN JUEL-3215 | Available | 51825515090 |
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