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Grenzschichtuntersuchungen an MIS-Dioden mit polykristallinen Halbleitern mittels C-V-Messungen / von Rudolf Lindner

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1969Auflage: [Auszugsdr.]Beschreibung: 23 SGenre/Form: Bearbeitungsvermerk:
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Hochschulschriftenvermerk: München, Techn. Hochsch., Diss., 1969 Call number: Grundsignatur: 70 DA 3332PPN: PPN: 1127244485
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Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 70 DA 3332 Verfügbar 09042077065
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