Grenzschichtuntersuchungen an MIS-Dioden mit polykristallinen Halbleitern mittels C-V-Messungen / von Rudolf Lindner
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1969Auflage: [Auszugsdr.]Beschreibung: 23 SGenre/Form: Bearbeitungsvermerk:- 3
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