Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs/GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie / Markus Lentzen. [Forschungszentrum Jülich GmbH, KFA, Institut für Festkörperforschung]

By: Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Forschungszentrum Jülich. Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3324Publisher: Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996Description: 217 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 30 cmReport number: Jül-3324Subject(s): Genre/Form:
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Dissertation note: Dissertation - Technische Hochschule Aachen, 1996 Call number: Grundsignatur: CN JUEL-3324PPN: PPN: 1128453835
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