Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs/GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie / Markus Lentzen. [Forschungszentrum Jülich GmbH, KFA, Institut für Festkörperforschung]
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Forschungszentrum Jülich. Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3324Verlag: Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996Beschreibung: 217 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 30 cmReportnummer: Jül-3324Schlagwörter: Genre/Form:
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