Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten / Jens Greiser
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Max-Planck-Institut für Metallforschung. Bericht ; 83Publisher: Stuttgart : Max-Planck-Inst. f. Metallforschung, 1999Description: VI, 143 S. : Ill., graph. DarstSubject(s): Genre/Form: Action note:- 3
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 99 DA 1276 | Available | 09042889907 |
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