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Photoelektronenspektroskopie von mikrokristallinem Silizium / Elmar Böhmer. [Forschungszentrum Jülich, Institut für Schicht- und Ionentechnik]

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Forschungszentrum Jülich. Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3767Verlag: Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2000Beschreibung: V, 102 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 30 cmReportnummer: Jül-3767Schlagwörter: Genre/Form: RVK: RVK: VG 9107
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Hochschulschriftenvermerk: Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss, 2000 Call number: Grundsignatur: CN JUEL-3767PPN: PPN: 1156218357
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Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Barcode
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Nord Geschlossenes Magazin CN CN JUEL-3767 Verfügbar 51762357090
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