Photoelektronenspektroskopie von mikrokristallinem Silizium / Elmar Böhmer. [Forschungszentrum Jülich, Institut für Schicht- und Ionentechnik]

By: Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Forschungszentrum Jülich. Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3767Publisher: Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2000Description: V, 102 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 30 cmReport number: Jül-3767Subject(s): Genre/Form: RVK: RVK: VG 9107
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Dissertation note: Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss, 2000 Call number: Grundsignatur: CN JUEL-3767PPN: PPN: 1156218357
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Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Nord Geschlossenes Magazin CN CN JUEL-3767 Available 51762357090
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