Epitaktisches Wachstum und strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung von Ru 2 Si 3 -Schichten / Daniel Lenssen
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Forschungszentrum Jülich. Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3783 : Institut für Schicht- und IonentechnikPublisher: Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2000Description: V, 114 S. : Ill., graph. DarstReport number: Jül 3783Subject(s): Genre/Form:
Contents:
Action note: - 2
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin CN | CN JUEL-3783 | Available | 51760715090 |
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