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Tieftemperaturdiffraktometrie bei Temperaturen bis 10 K : Entwicklung und Test einer Steuerlogik für eine neuartige Diffraktometergeometrie / von Martin Brennfleck

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1996Beschreibung: 52 SGenre/Form: Bearbeitungsvermerk:
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Hochschulschriftenvermerk: Karlsruhe, Univ., Dipl.-Arb., 1996 PPN: PPN: 1167592492
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