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Mikroprozessorsysteme : Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz / R. Hedtke

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: Berlin ; Heidelberg [u.a.] : Springer, 1984Beschreibung: 203 S : graph. Darst ; 25 cmISBN:
  • 3540129960
  • 0387129960
Schlagwörter: DDC-Klassifikation:
  • 001.64 19
RVK: RVK: ST 170 | ST 160LOC-Klassifikation:
  • QA76.5
Call number: Grundsignatur: 84 A 348PPN: PPN: 015691292
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Barcode
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 84 A 348 Verfügbar 48101504090
Anzahl Vormerkungen: 0