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Characteristics of ion-implanted contacts for nuclear particle detectors. I. Window thickness of ion-implanted semiconductor detectors. II. Concentration distribution in ion-implanted contacts for semiconductor detectors / O. Meyer

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kernforschungszentrum Karlsruhe. Kernforschungszentrum Karlsruhe ; 1015Verlag: Karlsruhe : Ges. für Kernforschung, 1969Beschreibung: S. 279 - 290 : graph. DarstReportnummer: KFK 1015Genre/Form: Call number: Grundsignatur: CN KFK-1015PPN: PPN: 1442109815
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Freihandbestand Präsenznutzung Bibliothek Campus Nord Geschlossenes Magazin CN CN KFK-1015 ;b Nicht ausleihbar 54047681090
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