Quantitative dopant profiling in semiconductors : a new approach to Kelvin probe force microscopy / Christine Baumgart
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf. Wissenschaftlich-technische Berichte ; 026Verlag: Dresden : HZDR, Helmholtz Zentrum Dresden-Rossendorf, 2012Beschreibung: VI, 147 S. : Ill., graf. Darst. ; 30 cmReportnummer: HZDR-026; HZDR 026Genre/Form: RVK: RVK: UP 2800Hochschulschriftenvermerk: Zugl.: Dresden, Techn. Univ., Fakultät Mathematik und Naturwissenschaften, Diss, 2012 Call number: Grundsignatur: CN HZDR-026PPN: PPN: 1445648741| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin CN | CN HZDR-026 | Verfügbar | 51072685090 |
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