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Die Struktur von Defekten in dotiertem Siliciumdioxid / von Michael Offenberg

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Publisher: 1988Description: 119 S : graph. Darst ; 21 cmSubject(s):

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Dissertation note: Aachen, Techn. Hochsch., Fak. für Elektrotechnik, Diss., 1988 Call number: Grundsignatur: 88 DA 3967PPN: PPN: 016102525

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Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	88 DA 3967	Available	09042122269

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